8英寸手動探針臺,射頻探針臺,高壓探針臺,MPI 8英寸射頻高低溫手動探針臺具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探針系統可提供最大的EMI屏蔽，并允許進行低噪聲的器件在片測量，從而可廣泛用于各種應用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片級可靠性，故障分析，設計驗證，和大功率。

射頻| MPI 8英寸毫米波手動探針臺 無縫集成任何帶狀，差分或寬帶頻率擴展器，最高可達1.5 THz和/或自動阻抗調諧器

MPI 8英寸手動探針臺 MPI探針臺系統專業提供探針臺及所有相關直流/射頻附件以及相關半導體測試整體解決方案。

高功率探針臺,大功率探針臺,手動|MPI 6英寸高功率探針臺適用于高功率器件量測和其他多種晶圓量測應用，如組件特性描述和建模，晶圓級可靠性。

大功率探針臺,手動|MPI 6英寸毫米波探針臺是一種專用的，經濟高效的手動探頭系統，專為基板和亞太赫茲150 mm晶圓的精密分析而設計。

MPI 8英寸高功率手動探針臺 MPI高功率器件表征系統專為晶圓上高功率器件測試而設計。MPI TS150-HP和TS200-HP探頭系統提供完整的150 mm和200 mm晶圓解決方案。它們設計用于在寬溫度范圍內實現功率半導體的低接觸電阻測量。

MPI 8英寸高低溫探針臺便利的晶圓單片上片，搭配簡單快速的晶圓預對準功能，實現自動化流程簡單化。

高功率探針臺,大功率探針臺,MPI 8英寸大功率半自動探針臺$nMPI的自動化TS2000-HP可在寬溫度范圍內提供可靠的晶圓上大功率設備測量，并且測量能力高達3 kV（三軸）/ 10 kV（同軸）和600 A（脈沖）。先進的ShielDEnvironment™提供低噪聲和屏蔽的測試環境。