射頻| MPI 8英寸毫米波手動探針臺

帶有Probe Hover Control™的*壓板提升機

MPI TS200-THZ手動測頭系統具有wu與倫比的功能，這些都是具有高度可重復性（1 µm）的壓板提升設計，具有用于安全，接觸，分離（300 µm）和加載（3 mm）的三個離散位置。這些功能可防止意外的探針或晶圓損壞，同時提供直觀的控制，準確的觸點定位和安全設置。如果毫米波和次太赫茲范圍內的探頭成本很高，則此功能尤其重要。

附加的Probe Hover Control™具有懸停高度（50、100或150 µm），可輕松方便地將探頭與焊盤對齊。

卡盤Z調整

TS150-THZ ju有10mm的精細卡盤Z調整，旨在靈活地集成不同的擴頻器，例如Rohde＆Schwarz，VDI或OML。對于在同一探頭系統上使用多個彎曲解決方案的設置非常有利-可以輕松快速地進行設置。

MicroPositioners的多種配置

專用的極剛性探針臺板設計可容納兩個東西方向的粗體->向下MP80大面積MicroPositioner。通過將兩個南北“電橋"作為標準配置，可以輕松進行四端口RF測量或DC偏置。

MP80-DX

市場上另一個MPI開拓性解決方案–*的MP80-DX具有Δl低至1µm的簡單，精確的清晰度–是精確且經濟高效的多線TRL的理想選擇-多行TRL –毫米波和次太赫茲范圍內wei一的RF校準方法。欲了解更多詳情，請訪問 MPI QAlibria ®軟件。

各種卡盤選項

TS200-THZ提供多種  卡盤選件， 以滿足不同的預算和應用要求，例如MPI：

• 帶BNC連接器的標準RF卡盤

• 專用mmW卡盤，*內置具有高導熱率（> 180 W / Km）的特殊陶瓷，甚至

• ERS AirCool射頻卡盤（從20°C到200°C或更高），帶有集成的鍍金頂面和小的真空孔

所有卡盤都有兩個由陶瓷材料制成的輔助卡盤，用于精確的RF校準，尤其是在40 GHz以上的范圍內。

各種光學選項

提供專用的  MPI光學元件  ，可以選擇單管MPI SuperZoom SZ10或MegaZoom MZ12，其光學變焦高達12倍，工作距離超過45毫米。由于集成擴頻器固有的空間限制，要求與DUT的距離最短，因此這種顯微鏡的體積小，非常適合RF和mmW應用。