200mm 8英寸射頻半自動探針臺 可用于環境溫度和/或僅熱溫度操作模式，速度快達10 Dies /秒（取決于最終配置），這使其成為離散RF設備上預生產電氣測試的理想選擇

半自動|射頻| 8寸自動測試探針臺 是一個自動化探針臺，可以從使用一開始或在測試領域內任何需要時轉換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動探針臺。

12英寸手動探針臺 適用于多種晶圓量測應用，如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性（WLR)和失效分析（FA）

MPI 12英寸半自動探針臺 MPI的TS3000是一個300毫米自動測頭系統，專門為產品工程， 故障分析， 設計驗證， 晶圓級可靠性 以及 RF和mmW 應用而設計。

高功率探針臺,MPI高功率器件表征系統專為晶圓上高功率器件測試而設計。MPI TS150-HP和TS200-HP探頭系統提供完整的150 mm和200 mm晶圓解決方案。它們設計MPI 8英寸高功率手動探針 臺用于在寬溫度范圍內實現功率半導體的低接觸電阻測量。文本

MPI的TS2000-SE是市場上200 mm自動化工程探測系統，集成了專為降低測試成本而設計的創新功能。這些功能集成在MPI ShielDEnvironment™中，MPI 8英寸高低溫探針 臺可實現超低噪聲，非常精確和高度可靠的DC / CV，RF和高功率測量。

射頻探針臺,8英寸射頻半自動探針臺系統與所有MPI系統附件*兼容，主要用于解決故障分析，設計驗證，IC工程，晶圓級可靠性以及MEMS，高功率，RF和mmW器件測試的特殊要求。

毫米波| MPI 8英寸射頻高低溫手動探針臺 是一個高性能的本地環境箱，可為超低噪聲，低電容測量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測試環境。