憑借著多年的行業經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。手動鍵合機

進料的wafer，經過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。 晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡

公司已經與多家世界的半導體器件和精密測試領域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括： 探針臺系統制造商MPI；世界微波組件和測試系統制造商MAURY；測量儀器制造商KEYSIGHT；的模型服務商Modelithics；EDS設備日本 HANWA和TOTOKU等。切割機

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