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    GP300探針臺

    簡要描述：GP300探針臺讓您的芯片測試更加簡單，機臺可輕松實現DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。

    • 產品型號：
    • 廠商性質：生產廠家
    • 更新時間：2023-05-12
    • 訪  問  量：5626
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    詳細介紹

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    GP300探針臺12英寸手動探針臺


    GP300探針臺產品數據：

    1. 機臺可輕松實現DC ~ THZ測量。

    2. 提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。

    3. 優異的三軸設計，保證I-V測試漏電精度達到fa等級。

    4. 多孔吸附式載物臺設計，更好地兼容薄晶圓固定。

    5. 高品質顯微鏡搭配高分辨率CCD系統，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準確性和效率。

    6. 可升級的高低溫系統，為芯片提供更加成熟穩定的老化測試環境。

    7. 緊湊且可靠的機械設計，更適用于芯片的測試及建模系統升級。

    8. 能夠根據未來需求，可提供多種升級模塊，輕松實現探針臺功能升級。

    9. 短軸式拉桿設計，將更加符合新一代芯片系統測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定，將進一步防止誤操作，提高測試效率，節省成本。


    高溫低漏電載物臺.png

    溫控系統局部細節圖--高溫低漏電載物臺


    637908211583597681553.png

    搭載直流和射頻探針座實物照片


    637908211526344947278.png

    搭載思儀太赫茲系統實物

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