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    全自動芯片ESD測試設備

    簡要描述：Hanwa ESD HED-G5000 全自動靜放電測試設備
    近年來，自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統的超前先進技術，解決自動駕駛技術的關鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性，保障汽車運行中的安全。目前國內尚未有關于汽車芯片可靠性的標準，而是基于國際AEC-Q100系列標準而進行汽車芯片可靠性測試，其中一環節就是要對汽車芯片進行CDM和HBM的靜電相關測試。

    • 產品型號：HED-G5000
    • 廠商性質：生產廠家
    • 更新時間：2023-12-12
    • 訪  問  量：367
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    詳細介紹

    日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機、HANWA ESD測試機

    產品概要：

    HANWA新一代G5000系列ESD 全自動靜電破壞檢測機已上市，搭載多Pin腳無繼電器的GND模組（最高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實現高精度檢測。此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 （滿足JEITA / ESDA / JEDEC規格）可用于閂鎖測試，并適用脈沖電 流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標準，車規級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試

    技術優勢：

    1、適應以下國際標準波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
    2、該系統    特別的短路放電電路可通過其原始機械設計實現。
    3、短路最大限度地減少電感和電容對數據的影響。
    4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數據穩定性。

    主要應用：

    芯片靜電破壞自動測定裝置


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